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    產品列表PRODUCTS LIST

    芯片溫度測試變化試驗箱

    型號:TEB-255PF

    瀏覽量:2318

    更新時間:2025-07-27

    價格:45980

    簡要描述:

    芯片溫度測試變化試驗箱
    可為用戶檢驗、檢測電子電工元器件、零配件
    或相關行業的實驗部門提供一個模擬環境,為
    測試數據的準確性和一致性(可重復)提供*條件。

    在線留言
    芯片溫度測試變化試驗箱
    品牌HT/皓天價格區間2萬-5萬
    產地類別國產應用領域電子/電池,航空航天,制藥/生物制藥,汽車及零部件,電氣

    芯片溫度測試變化試驗箱

     

    升溫時間(平均/min)

    非線性升溫速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃)線性升溫速率(5℃/10℃/15℃/20℃)

    降溫時間(平均/min)

    非線性降溫速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃)線性降溫速率(5℃/10℃/15℃/20℃)

     

    芯片溫度測試變化試驗箱

     

    1 、 試驗箱結構設計新穎合理,配套產品和功能元器件具有較高水平,能夠適 應長期、穩定、安全、可靠的生產需求。能夠滿足用戶為從事上述用途的加工生產要 求,且使用、操作、維修方便,使用壽命長,造型美觀,有良好的用戶界面,使用戶的操作和監測都更加簡單和直觀。

    2、 設備主要部件選用國際品牌廠家的產品,確保整機的質量和性能。

    3 、 設備性能完善、人機對話功能簡便易操作。

    4、擁有自主知識產權和外觀設計以及掌握環境試驗箱核心技術

    5、控制儀表采用日本*"優易控"UMC1200,可實行遠程監控

    6、制冷系統采用法國原裝泰康壓縮機組,并配有凝結水接水盤

    7、核心電氣元器件均采用施耐德等

    8、沿襲國外環境試驗設備*設計理念,水電分離

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